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詳細(xì)資料

英國桔皮儀RHOPOINT OPTIMAP PSD

產(chǎn)品表面質(zhì)量測量、繪圖

表面形貌的3D形貌圖

PSD技術(shù)

便攜、使用方便

全新的OPTIMAP^TM標(biāo)志著控制表面質(zhì)量的一場革命。主觀視覺評估可以轉(zhuǎn)化為可靠的、有代表性的測量。

對大多數(shù)消費者而言，高質(zhì)量的產(chǎn)品要求有同樣高質(zhì)量的外觀，沒有缺陷和瑕疵。表面外觀目前主要通過目測主觀評估或者通過不能捕捉表面質(zhì)量全貌的儀器測量。

OPTIMAP^TM提供了一個*的量化表面質(zhì)量的解決方案。

OPTIMAP通過簡單快速操作測量，可以給出被測產(chǎn)品表面形貌上詳細(xì)的難以置信的缺陷和紋理情況。獲取的形貌信息處理成目標(biāo)表面測量值，可以用來有效地控制產(chǎn)品質(zhì)量。

 堅固耐用的OPTIMAPTM適用于實驗室，工廠或者現(xiàn)場檢查

 柔軟的接觸測量口意味著儀器可以放心使用在質(zhì)量的表面

 表面紋理和缺陷可以評估各種表面：半啞光表面到拋光鏡面，小工件和曲面

 單次操作測量面積 (95 x 70mm)

 屏幕上的3D圖形即時讀取表面形貌

 客觀的測量可以顯示為可追溯的標(biāo)準(zhǔn)單位或者選定的工業(yè)級別

 數(shù)據(jù)和結(jié)果與其他分析技術(shù)和第三方軟件*兼容

 Ondulo軟件可以生成復(fù)雜的紋理/缺陷分析和報告。

 快速、可靠和便攜式測量

從集成的可充電電池或者直接電源供電, OPTIMAP^TM可以安全地用于實驗室，工廠或者遠(yuǎn)程現(xiàn)場檢查。

由于儀器的光學(xué)測量使用相位步進(jìn)偏折原理，儀器無需在表面上移動。

由于不需要移動測量，儀器嚴(yán)格確保了每次測量的可靠性和準(zhǔn)確性。

 廣泛的表面測試及應(yīng)用

OPTIMAP^TM可以廣泛的用于從超低光澤到鏡面光澤，不論面積大小，和帶有不同程度曲率的表面。

柔軟的橡膠測量口，確保放在質(zhì)量的表面的上也是安全的。

 典型的表面分析

OPTIMAP^TM客觀地測量和表征表面質(zhì)量的許多方面包括紋理、波紋度和局部缺陷（包括橘皮、夾雜物、凹坑和劃痕等）。

大測量面積（95mm x 70mm）提供了比那些表面輪廓儀或者其他光學(xué)掃描儀器更具有代表性的結(jié)果，而且可以以可追溯至標(biāo)準(zhǔn)單位（m^-1）或其他特定工業(yè)單位來體現(xiàn)。

具有高橫向分辨率（＜75um）的OPTIMAP^TM有能力捕獲人眼看不到的表面缺陷。

直觀的用戶界面

Optimap直觀的用戶界面提供了操作、設(shè)置和測量結(jié)果的顯示。帶圖標(biāo)的觸摸屏使用簡便，只需按下屏幕上相應(yīng)的功能區(qū)域即可。

測量結(jié)果顯示為3D形貌圖，圖表和數(shù)字格式。

高分辨率3D圖像可以通過交互式全屏縮放和平移進(jìn)行仔細(xì)檢查。

數(shù)字結(jié)果可以顯示為標(biāo)準(zhǔn)單位或者調(diào)整為工業(yè)規(guī)范。

Optimap的紋理值與使用相同濾波頻帶的波紋值是相關(guān)的，常用于汽車和其他高光澤應(yīng)用。對于一些應(yīng)用包括塑料、金屬和紡織品，整體紋理值可以用來客觀評估大多數(shù)的可見紋理。

表面測量的一次革命

強大的離線分析

高分辨率的圖像測量結(jié)果可以很容易的從Optimap 傳輸?shù)絇C，使Rhopoint Ondulo軟件 或第三方軟件如MOUNTAINS進(jìn)行處理。

數(shù)據(jù)傳輸簡單，使用標(biāo)配的USB密鑰或者接口線纜。

RHOPOINT Ondulo閱讀軟件具有*數(shù)據(jù)分析和報告功能。

可以識別、映射和量化表面效果如紋理、平整度、局部缺陷的數(shù)量、尺寸和的形狀等。

可以定性輪廓的曲率、斜率和高度

Ondulo中的缺陷分析例子

感興趣區(qū)域的3D圖像可以分離評估

3D 視圖

高度 (μm)

橫截面在Y-Y

高度 (μm)

橫截面在X-X

    拖放功能使得圖像和數(shù)據(jù)可以很容易地轉(zhuǎn)移到Microsoft Word用作報告

    靈活的屏幕視圖功能使得映射結(jié)果以單、雙或者3D格式顯示

    表面的3D視圖和X/Y橫截面視圖可以*旋轉(zhuǎn)

    雙視圖可以比較已保存的結(jié)果

    縮放尺寸可以任選曲率(m^-1)或μm.

*測量技術(shù)

OPTIMAP^TM采用的*測量技術(shù)被稱為相位階梯偏折Phase Stepped Deflectometry (PSD)。這種白光光學(xué)技術(shù)使用一個周期的正弦波形模型來測量表面輪廓。通過高分辨率的顯示器和攝像頭捕獲圖像。

這種正弦波形像一把尺子使得光源的縱坐標(biāo)被映射在表面上，因為他們和正弦模型輪廓的空間相位成比例。

通過轉(zhuǎn)移或“步進(jìn)”的波形相位，使表面上的每個點，通過相機上每個像素的對應(yīng)點精確測量。利用表面、顯示屏和相機之間的幾何關(guān)系，反射光線在空間上模擬計算表面上每個點的法線方向從而獲得那個點的輪廓。

通過使用正弦模型，輪廓正交在整個表面，獲得多維的斜率和曲率數(shù)據(jù)。

通過區(qū)分?jǐn)?shù)據(jù)，場曲可以被計算出使精確的描述表面質(zhì)量。對由于缺陷造成的局部高度變化，這個場區(qū)具有高敏感性。

不像其他的儀器，OPTIMAP^TM 不需要在表面上移動，所有測量使用PSD光學(xué)技術(shù)完成從而防止在操作過程中的對表面的任何損壞。

應(yīng)用事例

油漆和涂料                                  游艇制造                                      飛機

金屬拋光                                      石材打磨                                      汽車

智能手機、平板電腦、筆記本電腦           木器漆                            汽車修補

儀器參數(shù)

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